首頁產品目錄公司簡介 新聞動態資料下載聯系我們 技術資訊English

上海安亭 聯系人：張女士 手 機：13501902109 電 話：0512-81866031 郵 箱：w.zhang@oec-shanghai.com 德國Walter Uhl公司 德國LT公司超精密 德國NTG公司離子束拋光機 德國XONOX公司 德國FRT公司三維輪廓納米測量儀 粗糙度 平面度 翹曲度 德國Trioptics公司光學測量儀 海德堡激光直寫光刻設備 金剛石砂輪+金剛石車刀

首頁 >>> 產品目錄 >>> 德國FRT公司三維輪廓納米測量儀 粗糙度 平面度 翹曲度   更詳細的產品分類 原子力顯微鏡   白光干涉儀   納米表面測量   膜厚測量儀   三維輪廓儀   產品圖片 產品名稱/型號 產品簡單介紹 納米表面測量儀 MicroProf / MicroGlider 德國FRT測量系統應用于所有類型的表面測量分析。納米表面測量儀采用一個或多個傳感器高精密測量輪廓特征，表面粗糙度，平面度、平行度以及形貌特征和薄膜厚度等。使用光學白光色差傳感器進行非接觸無損傷測量，工作距離大，快速輸出2D或3D測量數據。適合研發和質控領域應用范圍：半導體晶片加工檢測；鈉米刻蝕和操作；MEMS；IC封裝；汽車制造系統；復合材料分析；生物分析磨擦分析；薄膜厚度測量，微細結構分析等。 原子力顯微鏡 AFM 原子力顯微鏡 AFM 是利用測量探針與樣品之間的作用力，進行納米級的*高精度掃描分析。 除了表面形貌還可以采用不同的測量模式分析材料的其他特性。掃描范圍從20um×20um到80um×80um。 可應用于半導體行業、汽車制造、皮革工業、造紙工業、生物學、聚合物、MEMS等 我們的客戶名單上有眾多的世界有名企業。 白光干涉儀 FRT WLI 白光干涉儀采用白光干涉測量傳感器，其垂直分辨率可達0.1nm詳細技術參數：測量原理:白光干涉測量；測量物鏡10X 20X 50X垂直測量范圍：100um(400um可選)垂直分辨率 0.1nm；X,Y測量范圍:1.6X1.2mm 0.8X0.6mm 0.32X0.24mm；工作距離：3.6mm 3.6mm 1.7mm側向分辨率2.5um 1.25um 0.5um 白光干涉儀 厚度測量儀 MicroProf TTV 德國FRT公司生產的MicroProf TTV **厚度測量系統，厚度測量儀 除對**厚度進行測量外，還可以進行2D/3D輪廓測量、粗糙度等測量；廣泛應用于半導體晶片、光學零件、金屬薄片厚度檢測等等 FRT薄膜厚度測量儀 MicroProf FTR FRT薄膜厚度測量儀采用膜層厚度測量傳感器，非接觸測量表面膜層，測量范圍從10nm--250um，廣泛應用于半導體晶片、光學鍍膜加工、漆膜、氧化表面層測量。 FRT三維輪廓測量儀 FRT MicroSpy Topo 該型號是FRT公司*近更新的產品，FRT三維輪廓測量儀在原有 TG/CF型號型號上，測量功能更加強大。除了用于測量零件外形輪廓的幾何尺寸(點線，角度等)；共面性、平面度、平行度等；還可以測量表面粗糙度. 其特點是采用非接觸無損測量，有效保護零件的表面；提供完整的2D和3D圖；工作距離大，能夠對精密汽車零部件、沖壓注塑模型腔及其它零件進行快速準確的測量（如測直斜齒輪的模數、齒形角、尖角等）。

北京德華振峽科技有限公司   電話：  傳真： 地址：      郵編：   京ICP備17022378號-1