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首頁 >>> 產品目錄 >>> 德國FRT公司三維輪廓納米測量儀 粗糙度 平面度 翹曲度 >>> 膜厚測量儀   更詳細的產品分類 產品圖片 產品名稱/型號 產品簡單介紹 FRT薄膜厚度測量儀 MicroProf FTR FRT薄膜厚度測量儀采用膜層厚度測量傳感器，非接觸測量表面膜層，測量范圍從10nm--250um，廣泛應用于半導體晶片、光學鍍膜加工、漆膜、氧化表面層測量。

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